Тема: 0. Introduction | X-rays for Materials Characterization: From Laboratory Devices to Megascale Research Facilities | SFEDU LMS

В начало ЮРЦКОО ЮФУ Проверить сертификат Минимальные требования

Section outline

- Выбрать элемент Welcome to the course
  
  Welcome to the course Лекция
  
  Студенты должны
  
  Отметить как выполненный
- Выбрать элемент Entry survey
  
  Entry survey Анкета
  
  Студенты должны
  
  Отметить как выполненный